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热差分析仪

热差分析仪

简要描述:热差分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。

产品型号: ST-RC

所属分类:热差分析仪

更新时间:2025-05-14

厂商性质:生产厂家

详情介绍

热差分析仪

 

仪器简介

  热差分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。

   热差分析仪仪器用途

  相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。

  主要特点

  1. 封闭式陶瓷保温炉体结构,大大提升了信号灵敏度和分辨率,能获得更稳定的基线。

  2. 配有进口高频内核控制处理器,运算处理速度更快,控制更加高效。

  3. 传感器采用进口材料设计,配备的K型或E型传感器可通过软件任意切换,不同的测试场合可以灵活选择传感器类型,尤其适用于对高分子材料的相变、玻璃化类实验。

  4. 相互独立的气氛控制,可以通过软件智能设置,仪器自动切换气路系统,实验效率更高。

  5. 设备系统的下位机和上位机同时具有多点温度校正功能,满足不同实验场合的需求,提高了温度测试的准确性。

  6. 具有FTC和STC两种实验模式可设置,控温更加友好灵活,可以满足不同应用场景不同实验的需求,对实验过程温度的控制更加精确,对传感器信号的解析更加高效,精准掌控实验效果。

  7. 全控温系统采用优化的动态PID算法,极大的规避了传统PID算法的缺点,提高了双模式控温的鲁棒性。

  8. 12阶的程序控温设置,让实验方法更加多样化,且设备具有循环扫描功能,循环扫描次数可设置高达9999次,数据自动保存。

  9. 传感器信号的采样频率1~10Hz可设置,实验方法更加灵活,数据更加可控。

  10. 双温度传感器设计理念,可以同时分别测试炉体内部温度和样品温度。

  11. 设备系统可以做升温、降温和等温相关类材料实验。

  12. 仪器采用USB双向通讯,软件智能化设计,具有基线的扣除功能,实验过程自动绘图,智能化实现各种数据的处理,如玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。





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